![]()
A) Conductivitat tèrmica B) Reactivitat química C) Morfologia de la superfície D) Resistència mecànica
A) Determinar el mòdul de Young. B) Avaluació de la resistència a la corrosió. C) Mesurar la mida dels grans. D) Identificar grups funcionals en un material.
A) Flux de calor B) Duresa C) Densitat D) Viscositat
A) Avaluació de la resistència a la corrosió. B) Determinar les propietats òptiques. C) Analitzar les propietats magnètiques. D) Mesurar les variacions de massa en funció de la temperatura.
A) Difracció de raigs X (DRX) B) Microscòpia electrònica de transmissió (MET) C) Espectroscòpia ultraviolenta-visible (UV-Vis) D) Dispersió de llum dinàmica (DLD)
A) Propietats mecàniques en funció de la temperatura B) Transparència òptica C) Estabilitat química D) Resistència elèctrica
A) Espectroscòpia ultraviolenta-visible (UV-Vis) B) Espectroscòpia Raman C) Espectroscòpia de fotoelectrons de raigs X (XPS) D) Microscòpia de força atòmica (AFM)
A) Duresa B) Conductivitat tèrmica C) Composició elemental D) Susceptibilitat magnètica
A) Anàlisi termogravimètrica (ATG) B) Microscòpia electrònica de rastreig (SEM) C) Anàlisi mecànica dinàmica (AMD) D) Espectroscòpia de raigs X de dispersió d'energia (EDS)
A) Estructura electrònica i transicions. B) Conductivitat tèrmica. C) Reactivitat química. D) Resistència mecànica.
A) Composició elemental de la superfície B) Propietats mecàniques C) Estabilitat química D) Conductivitat tèrmica
A) Paràmetres de la retícula cristal·lina B) Estructura química i dinàmica C) Expansió tèrmica D) Resistivitat elèctrica
A) Espectroscòpia infraroja de transformada de Fourier (FTIR) B) Espectroscòpia de raigs X dispersiva d'energia (EDS) C) Microscòpia de força atòmica (AFM) D) Anàlisi per làser de flash (LFA)
A) Anàlisi mecànica dinàmica (DMA) B) Espectroscòpia Raman C) Microscòpia de força atòmica (AFM) D) Espectroscòpia de raigs X dispersiva en energia (EDS)
A) Per mesurar la distribució de la mida de les partícules. B) Per estudiar les propietats magnètiques. C) Per determinar les propietats tèrmiques. D) Per analitzar la cristalinitat.
A) Cromatografia B) Titració C) Prova de tracció D) Espectroscòpia
A) Espectroscòpia Raman B) Espectroscòpia de fotoelectrons d'energia X C) Microscòpia de força atòmica D) Cromatografia de permeació en gel
A) Resolució de Mesura en Nanomètres B) Resistència Natural als Microorganismes C) Refracció de Metalls Nobles D) Resonància Magnètica Nuclear
A) Anàlisi mecànica dinàmica (DMA) B) Calorimetria diferencial d'escaneig (DSC) C) Ablació làser-Espectrometria de plasma induït per radiofreqüència-Espectrometria de masses (LA-ICP-MS) D) Espectroscòpia fotoelectrònica de raigs X (XPS)
A) Nanoindentació B) Espectrometria de masses C) Espectroscòpia UV-Vis D) Espectroscòpia de fluorescència de raigs X
A) Modulació de freqüència acústica B) Monitoratge analític de fractures C) Mode de fragmentació accelerada D) Microscòpia de força atòmica
A) Electrons no aparellats B) Ions d'hidrogen C) Enllaços químics D) Dominis magnètics
A) Reactivitat química B) Propietats acústiques C) Susceptibilitat magnètica D) Composició superficial
A) Nanoindentació B) Dilatometria C) Prova de polarització potentiodinàmica D) Anàlisi per flash làser (LFA)
A) Mesurar la duresa i el mòdul elàstic. B) Avaluació de l'estabilitat tèrmica. C) Visualitzar la topografia de la superfície. D) Analitzar la composició química.
A) Propietats mecàniques B) Enllaços químics i estructura electrònica C) Transparència òptica D) Conductivitat tèrmica |