A) Morfologia della superficie B) Resistenza meccanica C) Conducibilità termica D) Reattività chimica
A) Determinazione del modulo di Young B) Misurazione della dimensione dei grani C) Valutazione della resistenza alla corrosione D) Identificazione dei gruppi funzionali in un materiale
A) Flusso di calore B) Durezza C) Viscosità D) Densità
A) Misurazione delle variazioni di massa in funzione della temperatura B) Determinazione delle proprietà ottiche C) Valutazione della resistenza alla corrosione D) Analisi delle proprietà magnetiche
A) Microscopia elettronica a trasmissione (TEM) B) Diffusione dinamica della luce (DLS) C) Spettroscopia ultravioletto-visibile (UV-Vis) D) Diffrazione dei raggi X (XRD)
A) Resistività elettrica B) Stabilità chimica C) Proprietà meccaniche in funzione della temperatura D) Trasparenza ottica
A) Spettroscopia Raman B) Microscopia a forza atomica (AFM) C) Spettroscopia ultravioletto-visibile (UV-Vis) D) Spettroscopia di fotoelettroni a raggi X (XPS)
A) Durezza B) Suscettibilità magnetica C) Composizione elementare D) Conducibilità termica
A) Spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) B) Microscopia elettronica a scansione (SEM) C) Analisi termogravimetrica (TGA) D) Analisi meccanica dinamica (DMA)
A) Reattività chimica B) Struttura elettronica e transizioni C) Conducibilità termica D) Resistenza meccanica
A) Per misurare la distribuzione dimensionale delle particelle B) Per analizzare la cristallinità C) Per determinare le proprietà termiche D) Per studiare le proprietà magnetiche
A) Elettroni spaiati B) Legami chimici C) Domini magnetici D) Ioni di idrogeno
A) Visualizzazione della topografia della superficie B) Misurazione della durezza e del modulo elastico C) Valutazione della stabilità termica D) Analisi della composizione chimica
A) Cromatografia a permeazione di gel B) Spettroscopia Raman C) Spettroscopia di fotoelettroni a raggi X D) Microscopia a forza atomica
A) Analisi meccanica dinamica (DMA) B) Spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) C) Spettroscopia Raman D) Microscopia a forza atomica (AFM)
A) Spettroscopia B) Titolazione C) Test di trazione D) Cromatografia
A) Spettroscopia di fotoelettroni a raggi X (XPS) B) Analisi meccanica dinamica (DMA) C) Calorimetria differenziale a scansione (DSC) D) Spettrometria di massa con plasma ad accoppiamento induttivo e ablazione laser (LA-ICP-MS)
A) Monitoraggio analitico delle fratture B) Microscopia a forza atomica C) Modalità di frammentazione accelerata D) Modulazione di frequenza acustica
A) Espansione termica B) Parametri del reticolo C) Struttura e dinamica chimica D) Resistività elettrica
A) Stabilità chimica B) Conducibilità termica C) Composizione elementare della superficie D) Proprietà meccaniche
A) Conducibilità termica B) Trasparenza ottica C) Proprietà meccaniche D) Legame chimico e struttura elettronica
A) Composizione della superficie B) Reattività chimica C) Proprietà acustiche D) Suscettibilità magnetica
A) Spettroscopia UV-Vis B) Spettrometria di massa C) Fluorescenza a raggi X D) Nanoindentazione
A) Analisi laser flash (LFA) B) Dilatometria C) Test di polarizzazione potenziodinamica D) Nanoindentazione
A) Rifrazione dei metalli nobili B) Risoluzione di misura nanometrica C) Risonanza magnetica nucleare D) Resistenza microbica naturale
A) Microscopia a forza atomica (AFM) B) Analisi laser flash (LFA) C) Spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) D) Spettroscopia infrarossa con trasformata di Fourier (FTIR) |