A) 超大规模集成 B) 电压水平传感器集成 C) 易失性逻辑系统接口 D) 极低 信号改善
A) RTL B) CMOS C) FPGA D) ASIC
A) 验证 B) 布局 C) 规格 D) 综述
A) 布局中的互联效应建模 B) 生成电力报告 C) 确保时钟分配 D) RTL 综合优化
A) 数字滤波器技术 B) 可测试性设计 C) 调试功能测试 D) 延迟故障测试
A) 系统测试自动化 B) 静态时序分析 C) 标准测试应用 D) 合成工具算法
A) JFET B) FinFET C) 砷化镓场效应晶体管 D) 双极结型晶体管
A) 提高性能，降低功耗 B) 增加成本和复杂性 C) 降低设计灵活性 D) 降低信号完整性 |