A) 电压水平传感器集成 B) 极低 信号改善 C) 超大规模集成 D) 易失性逻辑系统接口
A) ASIC B) CMOS C) FPGA D) RTL
A) 综述 B) 规格 C) 验证 D) 布局
A) 生成电力报告 B) 确保时钟分配 C) RTL 综合优化 D) 布局中的互联效应建模
A) 延迟故障测试 B) 可测试性设计 C) 数字滤波器技术 D) 调试功能测试
A) 系统测试自动化 B) 合成工具算法 C) 静态时序分析 D) 标准测试应用
A) 双极结型晶体管 B) 砷化镓场效应晶体管 C) FinFET D) JFET
A) 增加成本和复杂性 B) 提高性能,降低功耗 C) 降低设计灵活性 D) 降低信号完整性 |